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隨著先進材料構(gòu)造的微細化和制造過程的復雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。

JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。 該設(shè)備能配置3D觀察功能、自動TEM樣品制備功能，能對應(yīng)多種制樣需求。