產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心制樣設(shè)備
日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備為了滿足市場多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。
IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。