產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心掃描電子顯微鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡JSM-IT510日本電子SEM
JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場(chǎng)景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡(jiǎn)單 SEM"功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它",從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
product
產(chǎn)品分類品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場(chǎng)發(fā)射 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,綜合 |
水 NEW日本電子SEM
只需選擇目標(biāo)視野“簡(jiǎn)單SEM"支持日常工作。
樣品:電子元件
加速電壓:15 kV,放大倍數(shù):×50(上部)×1,000(下部),信號(hào):BE
JSM-IT510 InTouchScope™日本電子SEM樣品交換導(dǎo)航
從樣品交換引導(dǎo)至自動(dòng)觀察安全簡(jiǎn)單!
1.按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品
測(cè)量樣品高度
2.準(zhǔn)備抽真空觀察
*1樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)(SNS)是選配件
*2大區(qū)域樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)(SNSLS)是選配件
*3樣品室相機(jī)(CS)是選配件
3.自動(dòng)開(kāi)始觀察
真空完成后自動(dòng)成像
ZeromagJSM-IT510 InTouchScope™日本電子顯微鏡輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無(wú)縫轉(zhuǎn)換
Zeromag功能簡(jiǎn)化了導(dǎo)航,提供從光學(xué)圖像到SEM圖像的無(wú)縫過(guò)渡。
SEM、光學(xué)圖像和樣品臺(tái)示意圖全部鏈接在一起,以獲得分析位置的全局視圖。
樣品:菊石化石加速電壓:7kV信號(hào):BE
實(shí)時(shí)分析/實(shí)時(shí)引導(dǎo)圖*2
1.SEM觀察的同時(shí)掌握該區(qū)域的元素組成
實(shí)時(shí)分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時(shí)顯示EDS光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。
2.簡(jiǎn)單分析最多點(diǎn)擊3次即可開(kāi)始EDS分析
多種高級(jí)選項(xiàng)
1.NEW低真空混合二次電子探測(cè)器(LHSED)*
該新型探測(cè)器可以收集電子和光子信號(hào),并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像
2.NEW實(shí)時(shí)3D新多向分割BE探測(cè)器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時(shí)3D圖像。
即使樣品具有細(xì)微的表面起伏,實(shí)時(shí)3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來(lái),并獲取其深度信息。
樣品:螺釘加速電壓:15kV放大倍數(shù):x100信號(hào):BE
3.蒙太奇
蒙太奇功能可以自動(dòng)獲取多個(gè)小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。
樣品:菊石化石
加速電壓:15kV放大倍數(shù):x150信號(hào):BE視野數(shù):13 x 13
4.顯示信號(hào)深度
此功能實(shí)時(shí)顯示被測(cè)樣品的分析深度(近似數(shù)值),對(duì)元素分析非常有用。