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技術(shù)文章

Technical articles

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  • 20244-10
    深入微觀世界:鎢燈絲掃描電子顯微鏡的工作原理與應(yīng)用

    鎢燈絲掃描電子顯微鏡,作為現(xiàn)代科學(xué)研究的重要工具,以其優(yōu)的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,深受科研人員的喜愛。它能夠讓我們深入微觀世界,探索那些肉眼無法察覺的奧秘。鎢燈絲掃描電子顯微鏡的工作原理基于電子與物質(zhì)之間的相互作用。其核心部件是一個細(xì)如發(fā)絲的鎢燈絲,當(dāng)電流通過時,鎢燈絲會發(fā)出高能電子束。這些電子束經(jīng)過電磁透鏡的聚焦和加速后,會轟擊樣品表面。在轟擊過程中,電子與樣品原子發(fā)生相互作用,激發(fā)出各種信號,如二次電子、背散射電子等。這些信號被探測器捕獲后,經(jīng)過處理,即可形成樣品的微觀形貌...

  • 20243-25
    截面拋光儀:制造與材料分析領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用

    在現(xiàn)代制造和材料分析領(lǐng)域,截面拋光儀已成為一種重要的關(guān)鍵工具。其憑借精確的操作和高效的性能,為科研人員和工程師提供了強有力的支持,極大地推動了相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展。截面拋光儀是一種專門用于材料截面拋光的設(shè)備,它能夠?qū)Σ牧蠘悠愤M行高精度的拋光處理,從而揭示出材料內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)和組織特征。通過截面拋光儀的處理,科研人員可以更加清晰地觀察到材料的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷分布以及相變過程等信息,這對于材料性能的優(yōu)化和新材料的開發(fā)具有重要意義。截面拋光儀的操作簡便,且具備較高的自動化程度。用戶只需將待...

  • 20243-21
    鎢燈絲掃描電子顯微鏡:探索微觀世界的儀器

    在科技日新月異的今天,人類對微觀世界的探索從未停止。鎢燈絲掃描電子顯微鏡作為一種先進的顯微觀察工具,為我們揭示了物質(zhì)世界的無數(shù)奧秘。鎢燈絲掃描電子顯微鏡的核心部件是鎢燈絲。鎢是一種高熔點、高硬度的金屬,其燈絲在電子束的激發(fā)下,能夠產(chǎn)生穩(wěn)定而高亮度的電子束。這一特點使得鎢燈絲成為掃描電子顯微鏡的理想選擇。在掃描電子顯微鏡的工作過程中,電子束與樣品表面發(fā)生相互作用,產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號。這些信號被探測器接收并轉(zhuǎn)化為電信號,進而形成圖像。由于電子的波長遠(yuǎn)小于可見光,因此掃...

  • 20243-19
    SEM掃描電鏡原理及其在微觀分析領(lǐng)域的應(yīng)用

    掃描電子顯微鏡(SEM)是一種利用高能電子束掃描樣品表面,通過收集、放大和再成像樣品表面反射或發(fā)射的電子信號,從而獲得樣品微觀形貌信息的設(shè)備。其工作原理主要基于電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)高能電子束轟擊樣品表面時,會產(chǎn)生多種電子信號,如二次電子、背散射電子等。這些電子信號經(jīng)過探測器收集后,轉(zhuǎn)化為電信號,再經(jīng)過放大和處理,最終在顯示屏上呈現(xiàn)出樣品的微觀形貌圖像。SEM掃描電鏡在微觀分析領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。在材料科學(xué)領(lǐng)域,SEM可用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、表面形貌和化學(xué)成分,為材料設(shè)計...

  • 20243-15
    微觀世界的“放大鏡”:日本電子SEM掃描電鏡的功能與特點

    在探索微觀世界的道路上,日本電子SEM掃描電鏡無疑是一把強大的“放大鏡”。它的高精度、高分辨率以及多功能性,使得科學(xué)家們能夠更深入地了解物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì),進而推動科研和工業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展。日本電子SEM掃描電鏡具備出色的成像功能。通過高能量的電子束對樣品表面進行掃描,它可以捕捉到樣品表面的微小細(xì)節(jié),并以高分辨率的圖像形式展現(xiàn)出來。這種成像技術(shù)不僅可以用于觀察材料的表面形貌,還可以揭示材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和成分分布,為科研工作者提供了豐富的信息。除了成像功能外,日本電子SEM掃描電鏡...

  • 20242-27
    透射電子顯微鏡(TEM)的原理與應(yīng)用

    透射電子顯微鏡(TEM)是一種先進的成像技術(shù),它利用電子束穿透樣品并與其內(nèi)部原子相互作用,從而生成樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像。其原理基于電子的波動性質(zhì),電子束經(jīng)過高壓加速后,通過聚光鏡聚焦,穿透樣品時受到樣品的調(diào)制,攜帶了樣品的內(nèi)部信息,再通過物鏡、中間鏡和投影鏡的放大,最終在熒光屏或照相底片上成像。TEM在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。在材料科學(xué)中,TEM常用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、晶體缺陷、相界面和納米尺度下的材料行為。通過TEM圖像,科學(xué)家可以了解材料的原子排...

  • 20241-23
    透射電子顯微鏡的原理是什么?

    透射電子顯微鏡的原理是利用電子束作為光源,通過電磁透鏡將電子束成像在熒光屏幕上,從而獲得樣品的形貌、結(jié)構(gòu)和組成等信息。具體來說,透射電子顯微鏡的工作原理可以分為以下幾個步驟:電子槍:透射電子顯微鏡使用熱陰極電子槍,通過加熱陰極材料發(fā)射出電子束。加速和聚焦:電子束通過加速電壓的作用,獲得足夠的能量,并且在電磁透鏡的作用下被聚焦成很細(xì)的電子束。樣品室:樣品被放置在樣品室內(nèi),經(jīng)過電子束的轟擊后,透射電子通過樣品后帶有樣品的信息。電磁透鏡成像:透射電子經(jīng)過一系列的電磁透鏡后,經(jīng)過放大...

  • 20241-15
    改變傳統(tǒng)操作模式:JEM-F200全自動測角臺系統(tǒng)

    測角臺系統(tǒng)是透射電子顯微鏡(TEM)極其重要的硬件之一。無論是早期的頂插式還是目前主流的側(cè)插式,都需要操作人員手動將樣品桿插入或拔出測角臺。這種傳統(tǒng)的操作方式,易出錯且非常依賴實驗人員的操作熟練度,已經(jīng)無法滿足現(xiàn)階段材料研究和工業(yè)分析領(lǐng)域簡便高效、高通量的分析需求。日本電子場發(fā)射透射電子顯微鏡JEM-F200全新的測角臺系統(tǒng)了傳統(tǒng)的操作方式,實現(xiàn)了全自動進出樣品桿,并且兼顧了超高精度和穩(wěn)定性,是電鏡技術(shù)發(fā)展歷程中一個里程碑式的變革。插拔樣品桿作為透射電鏡操作的入門課程,傳統(tǒng)的...

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