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JED-2300/2300F 能譜儀是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng)使用，可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。 EDS通過檢測(cè)被電子束激發(fā)出的樣品特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)分析、線分析及面分析。

JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。

JCM-7000 JEOL臺(tái)式掃描電子顯微鏡 NeoScope™ 是以“誰都可以操作的SEM/EDS“為理念的臺(tái)式掃描電子顯微鏡， 標(biāo)配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。 新設(shè)置了中文操作界面！(選配件)

JSM-IT800 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導(dǎo)航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。

InTouchScope™ 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測(cè)和分析信息，用戶界面操作簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。